TTL/CMOS通用芯片检测一般规律 我们把芯片的管脚类型分为4类:电源、地、输入、输出。 测试用数字万用表的二极管档测量,选开路电压为2.8v的万用表,如UNI-T万用表。 研究方法:对照芯片内部电路图,用万用表对各个引脚测试。 1.地脚对电源、输入、输出引脚压降为一只二极管的压降。其中地对电源压降最小实测大约0.6v。地对输入、输出压降稍大0.6-0.9v, 根据这个规律可检测到电源脚和地脚。在后来的维修中 ,笔者碰到了cd4066损坏,其地脚对输入输出脚的压降明显增大,部分验证了该测试规律。 2.电源脚对地脚压降较大,实测1.7v以上, 3.输入脚对其他脚,根据芯片型号而不同 4.输出脚对其他脚,根据芯片型号而不同 仔细研究芯片内部电路结构发现了以上的规律,由于测试的芯片较少,规律掌握的还较少,以后要碰到一个芯片检测一个。
一般我们在维修时只测各脚对地是否短路,也许有些片面,这些问题还有待日后维修实践中继续研究。
这些技术网络上搜索不到,初步研究一些,待日后深入研究。
在维修中只有检测到芯片损坏,而且是那个引脚内部损坏,才会更深刻的理解故障原理。
(本文由只会维修射线机的西安老侯提供)
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