TTL/CMOS通用芯片检测一般规律——西安老候

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TTL/CMOS通用芯片检测一般规律

    我们把芯片的管脚类型分为4类：电源、地、输入、输出。

    测试用数字万用表的二极管档测量，选开路电压为2.8v的万用表，如UNI-T万用表。

    研究方法：对照芯片内部电路图，用万用表对各个引脚测试。

    1.地脚对电源、输入、输出引脚压降为一只二极管的压降。其中地对电源压降最小实测大约0.6v。地对输入、输出压降稍大0.6-0.9v， 根据这个规律可检测到电源脚和地脚。在后来的维修中 ，笔者碰到了cd4066损坏，其地脚对输入输出脚的压降明显增大，部分验证了该测试规律。

    2.电源脚对地脚压降较大，实测1.7v以上，

    3.输入脚对其他脚，根据芯片型号而不同

    4.输出脚对其他脚，根据芯片型号而不同

总结：任意两脚之间的压降都大于一只二极管的压降。

    仔细研究芯片内部电路结构发现了以上的规律，由于测试的芯片较少，规律掌握的还较少，以后要碰到一个芯片检测一个。
    一般我们在维修时只测各脚对地是否短路，也许有些片面，这些问题还有待日后维修实践中继续研究。
    这些技术网络上搜索不到，初步研究一些，待日后深入研究。
    在维修中只有检测到芯片损坏，而且是那个引脚内部损坏，才会更深刻的理解故障原理。

（本文由只会维修射线机的西安老侯提供）

重医酉阳李工

谢谢 学习了。。。